Рентгенівські методи досліджень

dc.contributor.authorЗагородній В.В.
dc.contributor.authorКарпець М.В.
dc.date.accessioned2025-03-05T08:28:42Z
dc.date.issued2014
dc.description.abstractПослідовно і комплексно розглядаються питання щодо застосування різних видів рентгенівського випромінювання для вивчення речовин у конденсованому стані. У курсі подано теоретичні і експериментальні методи дифракційних досліджень. Розглядаються питання кристалографії і симетрії кристалічних речовин. Обговорюється коло питань, пов’язаних із застосованням методу Рітвельда для розшифровки кристалічних структур, розглядаються можливості методу функцій Паттерсона. Значна увага приділена іншим методам дифракції для вивчення матеріалів, зокрема, дифракції електронів і нейтронів. Розглядаються теоретичні і експериментальні методи рентгенівської спектроскопії. Дається алгоритм розшивровки результатів дослідження методами EXAFS–спектроскопії. Для студентів фізичних напрямків підготовки спеціальностей «Прикладна фізика», «Металознавство» та ін.
dc.identifier.urihttps://archive.ipms.kyiv.ua/handle/123456789/129
dc.language.isoother
dc.publisherНТУУ «КПІ»
dc.relation.ispartofseriesНТУУ «КПІ», 2014. – 318 с.
dc.titleРентгенівські методи досліджень
dc.typeBook

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
Textbook_X-ray_methods_of_research.pdf
Розмір:
3.25 MB
Формат:
Adobe Portable Document Format

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
1.71 KB
Формат:
Item-specific license agreed to upon submission
Опис: