Автореферати (відділ 44)
Постійне посилання зібранняhttps://archive.ipms.kyiv.ua/handle/123456789/28
Переглянути
1 результатів
Результати пошуку
Документ Нові кількісні методи визначення структури матеріа лів у електронній мікроскопії.(Інститут проблем матеріалознавства ім. І. М. Францевича Національної академії наук України, 2021-09-20) Красікова І.Є.; Krasikova I.E.Красікова І.Є. Нові кількісні методи визначення структури матеріа лів у електронній мікроскопії. — Рукопис. Дисертація на здобуття вченого ступеня кандидата фізико-математичних наук за спеціальністю 01.04.07 — фізика твердого тіла — Інститут проблем ма теріалознавства ім. І.М. Францевича НАН України, Київ, 2021. Дисертаційна робота присвячена розробці методики математично визна ченої кількісної характеризації структури матеріала за його електронно мікроскопічним зображенням. У роботі виконана адаптація математичної моделі мультифрактального формалізму для визначення кількісних характеристик зображень структури ма теріалів, і на її основі розроблено відповідне програмне забезпечення, яке дає стійкі результати їх обчислень. Висока продуктивність розробленого програм ного забезпечення допускає принципову можливість включення її до існуючих програмних пакетів обробки електронно-мікроскопічних зображень в режимі реального часу, в тому числі до програмного забезпечення, яке вбудовано в еле ктронні мікроскопи. За допомогою представленої методики з метою верифікації моделей і роз робленого програмного забезпечення проведено дослідження отриманих муль тифрактальних і фізичних характеристик гарячепресованих композитів AlB12– AlN, яке дозволяє зробити важливий висновок про те, що з фізичними характе ристиками можуть бути пов'язані не тільки мультифрактальнi характеристики зображень структури фаз, але і мультифрактальнi характеристики виділених на них систем границь (границь зерен, границь фаз — в залежності від досліджу ваного матеріалу). Отримано результати розрахунків фрактальних характерис тик плівок хрому, осаджених в аргоні при зміні температури осадження та в залежності від доданків кисню. Показана наявність кореляції фрактальної роз мірності та фізичних характеристик плівок хрому — твердістю H та наведеним модулем пружності 2 (1 ) E E r = −ν . Досить високий ступінь кореляції спостері гається як при обчисленнях фрактальної розмірності площини фотографій, так і для систем виділених границь.