Використання методу регуляризації для визначення характеристик субструктури кристалічних матеріалів за формою дифракційних кривих.

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorРоженко Н.М.
dc.contributor.authorRozhenko N. M.
dc.date.accessioned2024-11-21T21:09:52Z
dc.date.issued2019-11-13
dc.descriptionSUMMARY Rozhenko N. M. The use of the regularization method for determining characteristics of the substructure of crystalline materials in the form of diffraction curves. – Manuscript. Thesis of physics and mathematics PhD degree, specialty 01.04.07 – solid state physics – Institute for Problems of Materials Science of the National Academy of Sciences of Ukraine, Kyiv, 2019. The dissertation is devoted to development of methods for studying the defective state of crystalline materials, which is based on digital processing of their X-ray patterns’, that amount to increase the resolving ability of the equipment. The effect of increasing the resolution is achieved by eliminating the instrumental broadening by the Tikhonov’s regularization method and by the transition from experimental diffraction lines to the physical diffraction curves of the objects. The developed method includes a procedure of separation of X-ray diffraction effects on CSR and crystal lattice microstrain which summarizes the method of moments and the Hall-Williamson, free from a priori assumptions about the law microstrain distribution takes into account the shape of complete physical profile, the nature of a blur function in the coherent scattering region and allows you to define the density distribution function microstrain. Using the presented technique, the defect state of W, WC, and Fe powders after grinding of different durations was studied; such fine structure characteristics as average values of microstrains and CSR sizes, their dependence on grinding time, and the distribution of microstrains in W and WC powders were determined.
dc.description.abstractРоженко Н.М. Використання методу регуляризації для визначення характеристик субструктури кристалічних матеріалів за формою дифракційних кривих. – Рукопис. Дисертація на здобуття вченого ступеня кандидата фізико-математичних наук (доктора філософії) за спеціальністю 01.04.07 – фізика твердого тіла – Інститут проблем матеріалознавства ім. І.М. Францевича НАН України, Київ, 2019. Дисертаційна робота присвячена розробці методики дослідження дефектного стану кристалічних матеріалів, що базується на цифровій обробці їхніх XRD-дифрактограм, рівнозначній заміні на обладнання з більш високою (порівнянною з кроком дифракції) роздільною здатністю. Ефект підвищення роздільної здатності досягається усуненням інструментального уширення методом регуляризації Тихонова і переходом від зафіксованих експериментальних дифракційних ліній до фізичних кривих розглядуваних об’єктів. Розроблена методика включає процедуру розділення ефектів дифракції на ОКР та кристалічній ґратці з мікродеформаціями, яка узагальнює методи моментів та Холла–Вільямсона, вільна від апріорних припущень щодо закону розподілу мікродеформацій, враховує форму враховує форму фізичних дифракційних ліній та характер функції розмиття на областях когерентного розсіяння і дозволяє визначати функцію щільності розподілу мікродеформацій. За допомогою представленої методики проведено дослідження дефектного стану порошків W, WC і Fe після розмелу різної тривалості, визначено такі характеристики тонкої структури, як середні значення мікродеформацій і розмірів ОКР, їхню залежність від тривалості розмелу, а також закони розподілу мікродеформацій у порошках W та WC.
dc.identifier.citationДисертація на здобуття вченого ступеня кандидата фізико-математичних наук (доктора філософії) за спеціальністю 01.04.07 – фізика твердого тіла – Інститут проблем матеріалознавства ім. І.М. Францевича НАН України, Київ, 2019.
dc.identifier.urihttps://archive.ipms.kyiv.ua/handle/123456789/32
dc.language.isoother
dc.publisherІнститут проблем матеріалознавства ім. І. М. Францевича Національної академії наук України
dc.subjectдифракційні методи
dc.subjectдефектний стан
dc.subjectметод регуляризації
dc.subjectфізичне уширення
dc.subjectроздільна здатність
dc.subjectрозподіл мікродеформацій
dc.subjectdiffraction methods
dc.subjectdefective condition
dc.subjectregularization method
dc.subjectphysical broadening
dc.subjectresolving ability
dc.subjectmicrostrain distribution
dc.titleВикористання методу регуляризації для визначення характеристик субструктури кристалічних матеріалів за формою дифракційних кривих.
dc.title.alternativeThe use of the regularization method for determining characteristics of the substructure of crystalline materials in the form of diffraction curves.
dc.typeThesis

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
aref_Rozhenko.pdf
Розмір:
695.47 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
1.71 KB
Формат:
Item-specific license agreed to upon submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Автореферати (відділ 44)