2. Секція "Фізико-хімія і технології наноструктурних і функціональних матеріалів"
Постійне посилання на фондhttps://archive.ipms.kyiv.ua/handle/123456789/22
Переглянути
147 результатів
Фільтри
Налаштування
Результати пошуку
Документ SELECTIVE LASER SINTERING H. SINTERING MULTILAYER REFRACTORY COMPOSITES(Khiwer Academic/Plenum Publishers, 1998) A. V. Ragulya; V. P. Stetsenko; V. M. Vereshchak; V. P. Klimenko; V. V. SkorokhodProcesses are considered in the selective laser sintering of multilayer composites based on TiN--TiB2 refractory powder mixtures, hard-alloy material of TN20 type, and a steel substrate. Selectivity of the process, which is expressed in the behavior of the multilayer composite material in sintering regimes that differ in laser power input, is demonstrated. At low power input, the layers of refractory alloys shrink appreciably mainly because of capillary infiltration of the liquid from the hard-alloy layer, which lies beneath it. At high power, the consolidation of the refractory mixture is due mainly to the formation of an eutectic.Документ ТЕРМОДИНАМІЧНІ ВЛАСТИВОСТІ СПЛАВІВ ПОДВІЙНИХ І ПОТРІЙНИХ СИСТЕМ, УТВОРЕНИХ АЛЮМІНІЄМ, ПЕРЕХІДНИМИ ТА РІДКІСНОЗЕМЕЛЬНИМИ МЕТАЛАМИ(КИЇВ НАУКОВА ДУМКА 2021, 2021) В.С. Судавцова; М.О. Шевченко; М.І. Іванов; В.Г. КудінУ монографії методом калориметрії при 1410—1880 К вперше визначено парціальні та інтегральні ентальпії змішування рідких сплавів подвійних систем Mn(Fe, Co, Ni)—Sc, Mn(Со, Ni)—Y, А1—Sс(Со, Рг, Nd, Sm) у широких інтервалах концентрацій та потрійних систем А1—Со—Sс, А1—Ni—Sс в обмежених інтервалах. Встановлено, що мінімуми інтегральних ентальпій змішування розплавів досліджених систем знаходяться у межах від 3 (Mn—Y) до 47 кДж/моль (А1—Sm). Диференційно-термічним аналізом досліджено сплави системи Мn—Sс. Розроблено програми для оптимізації активностей компонентів, енергій Гіббса, ентропій змішування розплавів, кривих ліквідусу та солідусу діаграм стану подвійних систем за моделлю ідеальних асоційованих розчинів. Порівняння отриманих результатів з достовірними наведеними в літературних джерелах даними показало, що вони узгоджуються в межах експериментальної похибки.Розроблено програми для оцінки термодинамічних властивостей розплавів потрійних систем на підставі аналогічних даних для граничних подвійних систем за моделями Колера, Редліха—Кістера—Муджіану тощо. Виконано критичний аналіз термодинамічних властивостей розплавів подвійних систем Мn(Sс, А1)—Ме з урахуванням розмірного та електрохімічного факторів, а також моделі Міедеми. Авторами проаналізовано результати власних і наведених у літературних джерелах досліджень щодо термодинамічних властивостей сполук, розплавів подвійних і потрійних систем і визначено найбільш достовірні. Reading audience:Для науково-технічних працівників, викладачів, аспірантів і студентів старших курсів вишів, які спеціалізуються в галузі матеріалознавства і суміжних з нею галузей.Документ Використання методу регуляризації для визначення характеристик субструктури кристалічних матеріалів за формою дифракційних кривих.(Інститут проблем матеріалознавства ім. І. М. Францевича Національної академії наук України, 2019-11-19) Роженко Н.М.; Rozhenko N. M.Дисертація на здобуття вченого ступеня кандидата фізико-математичних наук (доктора філософії) за спеціальністю 01.04.07 – фізика твердого тіла – Інститут проблем матеріалознавства ім. І.М. Францевича НАН України, Київ, 2019. Дисертаційна робота присвячена розробці методики дослідження дефектного стану кристалічних матеріалів, що базується на цифровій обробці їхніх XRD-дифрактограм, рівнозначній заміні на обладнання з більш високою (порівнянною з кроком дифракції) роздільною здатністю. Ефект підвищення роздільної здатності досягається усуненням інструментального уширення методом регуляризації Тихонова і переходом від зафіксованих експериментальних дифракційних ліній до фізичних кривих розглядуваних об’єктів. Розроблена методика включає процедуру розділення ефектів дифракції на ОКР та кристалічній ґратці з мікродеформаціями, яка узагальнює методи моментів та Холла–Вільямсона, вільна від апріорних припущень щодо закону розподілу мікродеформацій, враховує форму враховує форму фізичних дифракційних ліній та характер функції розмиття на областях когерентного розсіяння і дозволяє визначати функцію щільності розподілу мікродеформацій. За допомогою представленої методики проведено дослідження дефектного стану порошків W, WC і Fe після розмелу різної тривалості, визначено такі характеристики тонкої структури, як середні значення мікродеформацій і розмірів ОКР, їхню залежність від тривалості розмелу, а також закони розподілу мікродеформацій у порошках W та WC.Документ Використання методу регуляризації для визначення характеристик субструктури кристалічних матеріалів за формою дифракційних кривих.(Інститут проблем матеріалознавства ім. І. М. Францевича Національної академії наук України, 2019-11-13) Роженко Н.М.; Rozhenko N. M.Роженко Н.М. Використання методу регуляризації для визначення характеристик субструктури кристалічних матеріалів за формою дифракційних кривих. – Рукопис. Дисертація на здобуття вченого ступеня кандидата фізико-математичних наук (доктора філософії) за спеціальністю 01.04.07 – фізика твердого тіла – Інститут проблем матеріалознавства ім. І.М. Францевича НАН України, Київ, 2019. Метою дисертаційної роботи є розробка методики дослідження дефектного стану кристалічних матеріалів, яка включає встановлення закону розподілу мікродеформацій, на основі цифрового аналогу підвищення інформаційної спроможності рентгенодифракційного обладнання із залученням стійких математичних методів. Ефект підвищення роздільної здатності досягається усуненням інструментального уширення методом регуляризації Тихонова і переходом від зафіксованих експериментальних дифракційних ліній до фізичних кривих розглядуваних об’єктів. Розроблена методика включає процедуру розділення ефектів дифракції на областях когерентного розсіяння (ОКР) та кристалічній ґратці з мікродеформаціями, яка узагальнює методи моментів та Холла– Вільямсона, вільна від апріорних припущень щодо закону розподілу мікродеформацій, враховує форму фізичних дифракційних ліній та характер функції розмиття на ОКР і дозволяє визначати функцію щільності розподілу мікродеформацій. Об’єкт дослідження – явище розсіювання рентгенівських променів дефектами кристалічної будови у матеріалах металевих і керамічних систем. Предмет дослідження – встановлення характеристик тонкої структури реальних матеріалів з кристалічною будовою за сукупністю фізичних профілів, відновлених з їхніх дифракційних ліній. Методи дослідження. Для вирішення поставлених задач використовувалися такі методи: метод рентгенівської дифрактометрії кристалічних матеріалів; метод гармонічного аналізу форми рентгенівських ліній; метод моментів; метод апроксимації; графічний метод Холла– Вільямсона аналізу інтегральних ширин; метод чисельного моделювання на ЕОМ; метод порівняльного аналізу результатів обчислювального та натурного експерименту; математичні методи ітеративної регуляризації, метод регуляризації Тихонова, метод Ньютона, метод хорд; методика вибору варіанта наближеного розв’язку рівняння згортки; методика розділення ефектів дифракції рентгенівський променів на ґратці з мікродеформаціями та ОКР, яка не потребує апріорних припущень щодо закону розподілу мікродеформацій. Дисертаційна робота складається з вступу, трьох розділів, загальних висновків і списку використаних джерел. У вступі розкрито суть і стан наукової задачі, обґрунтовано актуальність роботи, сформульовано головну мету, задачі та методи досліджень, вказано на зв’язок з науковими програмами, визначено новизну отриманих результатів та обґрунтовано їхню практичну цінність. У вступі також висвітлено особистий внесок здобувача, наведено відомості про апробацію результатів роботи та кількість публікацій за матеріалами дослідження. У першому розділі проведено огляд математичних моделей, на яких базуються традиційні підходи дослідження дефектного стану методом рентгенографії, а також сучасних стійких математичних методів, які можуть бути використані для досягнення мети дослідження. Представлено основні поняття, означення та підходи, досліджено умови застосування найбільш уживаних методів. У другому розділі представлено розроблену методику аналізу дефектного стану матеріалів за їхніми XRD-дифрактограмами як послідовність етапів цифрової обробки, яка включає етап відновлення явного вигляду фізичного профілю із застосуванням стійкого методу регуляризації Тихонова до розв’язання рівняння згортки. Представлено здійснену автором модифікацію стандартної програмної реалізації цього методу і розроблену методику автоматизованого вибору варіанта наближення шуканого фізичного профілю. Представлено узагальнення методів моментів та Холла– Вільямсона розділення ефектів дифракції рентгенівський променів на ґратці з мікродеформаціями та ОКР, яке вільне від апріорних припущень щодо закону розподілу мікродеформацій, враховує форму фізичних дифракційних ліній та характер функції розмиття на областях когерентного розсіяння і дозволяє визначати функцію щільності розподілу мікродеформацій. Тестування розробленої методики проведено для XRD–дифрактограм від порошку W після розмелу різної тривалості (4, 8, 24 та 48 год). Проведено порівняння результатів застосування розробленої методики із розрахунками за традиційними методами. Достовірність побудованих функцій щільності розподілу мікродеформацій досліджуваних об’єктів підтверджено збігом модельних і експериментальних дифракційних ліній. У третьому розділі із застосуванням розробленої методики проведено дослідження дефектного стану порошків W, WC і Fe після розмелу різної тривалості, визначено такі характеристики тонкої структури, як середні значення мікродеформацій і розмірів ОКР, їхню залежність від тривалості розмелу, а також закони розподілу мікродеформацій у порошках W та WC. Наукова новизна отриманих результатів полягає в тому, що вперше модифіковано й застосовано стійкий метод регуляризації Тихонова для відновлення функції розсіяння рентгенівських променів, зумовленої дефектами кристалічної будови, з дифрактограм від конкретних порошкових матеріалів. Вперше розроблено, обґрунтовано й апробовано на експериментальних дифрактограмах методику автоматизованого вибору варіанта наближення фізичного профілю, відновленого методом регуляризації Тихонова, за наперед заданою відносною нев’язкою. Вперше розроблено й застосовано узагальнення методів моментів та Холла–Вільямсона розділення ефектів дифракції рентгенівський променів на ґратці з мікродеформаціями та ОКР, яке не потребує апріорних припущень щодо закону розподілу мікродеформацій і враховує характер функції розсіяння через наявність ОКР. Вперше розроблено й обґрунтовано методику встановлення закону розподілу мікродеформацій, яка базується на аналізі форми відновленого повного фізичного профілю і не потребує переходу до простору об’єкта. Представлений підхід розширює можливості рентгенодифракційного методу для дослідження субструктури матеріалів, дифракційні криві яких сумірні за шириною з еталонними. Встановлення кривих щільностей розподілу мікродеформацій відкриває нові можливості при дослідженні поля неоднорідних пружних деформацій у продуктах розмелу, їх залежності від умов розмелу та впливу на експлуатаційні властивості матеріалів.Документ Використання методу регуляризації для визначення характеристик субструктури кристалічних матеріалів за формою дифракційних кривих.(Інститут проблем матеріалознавства ім. І. М. Францевича Національної академії наук України, 2019-11-13) Роженко Н.М.; Rozhenko N. M.Роженко Н.М. Використання методу регуляризації для визначення характеристик субструктури кристалічних матеріалів за формою дифракційних кривих. – Рукопис. Дисертація на здобуття вченого ступеня кандидата фізико-математичних наук (доктора філософії) за спеціальністю 01.04.07 – фізика твердого тіла – Інститут проблем матеріалознавства ім. І.М. Францевича НАН України, Київ, 2019. Дисертаційна робота присвячена розробці методики дослідження дефектного стану кристалічних матеріалів, що базується на цифровій обробці їхніх XRD-дифрактограм, рівнозначній заміні на обладнання з більш високою (порівнянною з кроком дифракції) роздільною здатністю. Ефект підвищення роздільної здатності досягається усуненням інструментального уширення методом регуляризації Тихонова і переходом від зафіксованих експериментальних дифракційних ліній до фізичних кривих розглядуваних об’єктів. Розроблена методика включає процедуру розділення ефектів дифракції на ОКР та кристалічній ґратці з мікродеформаціями, яка узагальнює методи моментів та Холла–Вільямсона, вільна від апріорних припущень щодо закону розподілу мікродеформацій, враховує форму враховує форму фізичних дифракційних ліній та характер функції розмиття на областях когерентного розсіяння і дозволяє визначати функцію щільності розподілу мікродеформацій. За допомогою представленої методики проведено дослідження дефектного стану порошків W, WC і Fe після розмелу різної тривалості, визначено такі характеристики тонкої структури, як середні значення мікродеформацій і розмірів ОКР, їхню залежність від тривалості розмелу, а також закони розподілу мікродеформацій у порошках W та WC.Документ Нові кількісні методи визначення структури матеріа лів у електронній мікроскопії.(Інститут проблем матеріалознавства ім. І. М. Францевича Національної академії наук України, 2021-09-20) Красікова І.Є.; Krasikova I.E.Красікова І.Є. Нові кількісні методи визначення структури матеріа лів у електронній мікроскопії. — Рукопис. Дисертація на здобуття вченого ступеня кандидата фізико-математичних наук за спеціальністю 01.04.07 — фізика твердого тіла — Інститут проблем ма теріалознавства ім. І.М. Францевича НАН України, Київ, 2021. Дисертаційна робота присвячена розробці методики математично визна ченої кількісної характеризації структури матеріала за його електронно мікроскопічним зображенням. У роботі виконана адаптація математичної моделі мультифрактального формалізму для визначення кількісних характеристик зображень структури ма теріалів, і на її основі розроблено відповідне програмне забезпечення, яке дає стійкі результати їх обчислень. Висока продуктивність розробленого програм ного забезпечення допускає принципову можливість включення її до існуючих програмних пакетів обробки електронно-мікроскопічних зображень в режимі реального часу, в тому числі до програмного забезпечення, яке вбудовано в еле ктронні мікроскопи. За допомогою представленої методики з метою верифікації моделей і роз робленого програмного забезпечення проведено дослідження отриманих муль тифрактальних і фізичних характеристик гарячепресованих композитів AlB12– AlN, яке дозволяє зробити важливий висновок про те, що з фізичними характе ристиками можуть бути пов'язані не тільки мультифрактальнi характеристики зображень структури фаз, але і мультифрактальнi характеристики виділених на них систем границь (границь зерен, границь фаз — в залежності від досліджу ваного матеріалу). Отримано результати розрахунків фрактальних характерис тик плівок хрому, осаджених в аргоні при зміні температури осадження та в залежності від доданків кисню. Показана наявність кореляції фрактальної роз мірності та фізичних характеристик плівок хрому — твердістю H та наведеним модулем пружності 2 (1 ) E E r = −ν . Досить високий ступінь кореляції спостері гається як при обчисленнях фрактальної розмірності площини фотографій, так і для систем виділених границь.Зібрання Зібрання